Нивелир оптический LEICA NA2 арт.352036

Нивелир оптический LEICA NA2 - предназначен для определения превышений точек и их высоты над принятой уровненной поверхностью, прокладки нивелирных ходов и площадного нивелирование, определение высот точек, высокоточное нивелирование с использованием плоскопараллельной пластины и микрометра, измерение расстояний с помощью нитяного дальномера. Оптический нивелир LEICA NA2 отвечает всем требованиям точности, надежности и удобства использования. Используемые в инструменте передовые технические решения сделают ежедневную работу топографа более легкой. Инструмент идеально подходит для нивелирования любого класса точности и любых применений. Мгновенная проверка работоспособности компенсатора с помощью кнопки обеспечивает уверенность в исправности прибора.

• Качественная просветленная оптика. Изготовленные в Швейцарии стеклянные линзы дают отличное изображение. Зрительная труба с великолепной оптикой для получения яркого, высококонтрастного изображения.
• Автоматический магнитный компенсатор. После того как прибор был установлен на штатив и выравнен по уровню, механизм автоматической компенсации устанавливает линию визирования точно в горизонт.
• Кнопка проверки компенсатора. Специальная кнопка дает маятнику компенсатора легкий толчок для проверки работоспособности компенсатора.
• Фокусировочный винт позволяет выполнить фокусировку либо быстро и грубо, либо сверхточно.
• Гладкие бесконечные винты с двух сторон для простого и точного наведения.
• Дальномерные нити сетки нитей могут быть использованы для измерения расстояний.
• Пыле и влагозащита категории IP55, т.е. прибор имеет гарантированную защиту от внутренных механических повреждений в результате пылевых отложений, а также защищен от потока воды, например, ливень.
• Ударопрочность. Производитель гарантирует, что данный оптический нивелир гарантированно защищен от любых механических воздействий по классу ISO 9022-33-5.
• Прибор внесен в госреестр средств измерения и может быть поверен (опция).
• При работе необходимы геодезический штатив и нивелирная рейка (приобретаются отдельно).
• Дополнительный микрометр с плоско-параллельной пластиной для высокоточного нивелирования (приобретаются отдельно).